頭部CT検査は.脳のCT検査と同種の検査であり.頭蓋内血腫.外傷性脳損傷.脳出血.くも膜下出血.脳梗塞.脳腫瘍.脳水頭症.脳萎縮症.炎症性脳疾患.脳嚢腫などの脳の寄生虫性疾患.脳の発育異常などの診断に適応される。 頭部CTスキャンにより.患者はこれらの部位のいずれかを観察することができる。 頭部CTの診断原理は.脳の各組織のX線に対する吸収係数の違いを利用し.電子コンピューター処理によって異なる画像を得ることである。 頭部CTの走査層の厚さは1mmと薄く.微小な病変をより明瞭に映し出すことができ.非侵襲的な検査と頭部CTの感度の高さから.臨床の様々な神経疾患の診断に広く用いられている。